MACHINE機器情報

製品イメージ

顕微鏡・観察装置 工業用顕微鏡

表面分析装置光分析・クロマト及び質量分析関連装置ライフサイエンス関連機器遺伝子検査・診断機器試験・計測機器電気化学分析機器表面分析装置

マイクロエレクトロニクスおよび半導体製造に最適な検査システム DM3 XL

メーカー ライカマイクロシステムズ
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特長

マイクロエレクトロニクスおよび半導体産業製造において、ルーチンの検査、工程管理、欠陥解析は、さらにスピーディーに行うことが求められています。欠陥箇所を早く検出することで、次の対応をより早く実施することができます。

30% 広い視野で

DM3 XL 検査システムはユニークなマクロ対物レンズの採用で、これまでより 30% 大きな視野で観察できます。

商品ページ

仕様

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