MACHINE機器情報

製品イメージ

顕微鏡・観察装置 集束イオンビーム装置

表面分析装置光分析・クロマト及び質量分析関連装置ライフサイエンス関連機器遺伝子検査・診断機器試験・計測機器電気化学分析機器表面分析装置

日本電子 JIB-4000PLUS 集束イオンビーム加工観察装置

メーカー 日本電子
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特長

JIB-4000PLUSは高性能イオンカラムを搭載した集束イオンビーム加工観察装置(シングルビームFIB装置)です。加速したGaイオンビームを集束し試料に照射する事で、試料表面のSIM像観察、ミリング加工、カーボンやタングステンなどのデポジションが行えますので、TEM観察のための薄膜試料や試料内部を観察するための断面試料の作製が可能です。また、三次元観察機能、自動TEM試料作製機能を搭載できますので、試料作製の多様なニーズにお答えします。

概要

収束イオンビーム加工観察装置(FIB)JIB-4000PLUS

商品ページ

仕様

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