リタデーション測定装置

メーカー	大塚電子
販売元	大塚電子

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特長

高精度
幅広い測定範囲（リタデーション範囲：0 ～ 60000nm）
リタデーション波長分散形状がわかる
高リタデーション
サンプルを10回置き直して、結果を角度補正なし・ありで比較

OLED用偏光板、積層位相差フィルム、IPS液晶位相差フィルム付偏光板など、あらゆるフィルムに対応したリタデーション測定装置です。
超高Re.60000nmに対応の高速・高精度測定を実現。
フィルムの積層状態を“剥がさず、非破壊”で測定可能です。
さらに、操作面でもかんたんソフトウェアや、サンプルの置き直しによるズレに対応した補正機能を搭載し、手軽に高精度な測定ができます。

概要

RETS-100nx

反射型・透過型タイプの液晶封入済みセルからカラーフィルタ付空セルまで幅広く対応

液晶セル
-　透過、半透過型液晶セル（TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強誘電）
-　反射型液晶セル（TFT、TN、IPS、VA）
光学材料
-　その他（位相差・楕円・偏光フィルム、液晶材料）

商品ページ

RETS-100nx 製品ページ

仕様

型式	RETS-100nx
その他	測定項目（フィルム、光学材料）：リタデーション（波長分散）、遅相軸、Rth1、3次元屈折率1など測定項目（偏光板）：吸収軸、偏光度、消光比、各種色度、各種透過率など測定項目（液晶セル）：セルギャップ、プレチルト角*1、ツイスト角、配向角などリタデーション測定範囲：0 ～ 60,000nm リタデーション繰り返し性：3σ≦0.08nm （水晶波長板約600nm）セルギャップ測定範囲：0 ～ 600μm （Δn=0.1の場合）セルギャップ繰り返し性：3σ≦0.005μm （セルギャップ約3μm、Δn=0.1の場合）軸検出繰り返し性：3σ≦0.08° （水晶波長板約600nm）測定波長範囲：400 ～ 800nm （他選択可能）検出器：マルチチャンネル分光器測定径：φ2mm （標準仕様）光源：100W ハロゲンランプデータ処理部：パーソナルコンピュータ、モニターステージサイズ標準：100mm × 100mm （固定ステージ）オプション・超高リタデーション測定・多層測定・軸角度補正機能・自動XYステージ・自動傾斜回転ステージ
メーカー希望小売価格(税別)	お問合せください