MACHINE機器情報

製品イメージ

構造解析・元素分析装置 オージェ電子分光装置

JAMP-9510F フィールドエミッションオージェマイクロプローブ

メーカー 日本電子
販売元 日本電子
お問い
合わせ
リストに
入れる
お問い
合わせ
リストから
削除する
比較リスト
に入れる
比較リスト
から
削除する

特長

ナノからマイクロ領域の化学結合状態分析をハイスループットで実現する静電半球型アナライザー、EPMAにも採用されている安定した大電流を供給するフィールドエミッション電子銃を備えたハイスペックなオージェ電子分光装置です。
不可能とされていた絶縁物分析を可能とした高精度ユーセントリック試料ステージとフローティング型イオン銃を備えることにより、金属試料から絶縁物試料まで、組成情報から化学情報まで、サンプルを選ばない汎用性を実現しました。

概要

オージェマイクロスコープ(FE-Auger)JAMP-9510F

高感度・高分解能アナライザ
エネルギー分解能可変のアナライザを搭載することにより、高分解能モードによる化学結合状態分析と高感度モードによる高速マッピングの両立を実現しました。

ショットキーフィールドエミッション電子銃
SEMやEPMAにも採用されているショットキーフィールドエミッション電子銃に日本電子が長年培ってきた電子光学技術を組み合わせることにより、空間分解能3nmの像観察と、大電流200nAによるハイスループット化学結合状態分析を両立させた電子銃です。

ユーセントリック試料ステージ
複数の光学系をもつ分析機器に欠かせないユーセントリックステージの採用により、一度の高さ合わせで高精度な高さ中心再現性を実現。90°までの自由な傾斜により難しい絶縁物分析も可能に。

高い耐久性
長寿命を目指した設計コンセプトにより、イオン銃フィラメント&電子銃のエミッタの交換によるランニングコストを低減。

ソフトウェア
波形分離ソフトウェアを用いることで、ワンクリックで解析者を悩ませるオージェピーク重なりの分離も実行でき、複雑な化学結合状態解析もできます。

マップ再構築ソフトを用いることで、測定終了後のP/B再設定、積算中の時間変化のトレースなど多彩な解析ができます。

仕様

型式 JAMP-9510F
メーカー希望小売価格(税別) お問合せください

PAGE
TOP