極微小単結晶構造解析プラットフォーム Synergy-ED

• データ測定から結晶構造の決定まで、シームレスなワークフローを提供する電子回折統合プラットフォームです。
• ナノサイズの結晶が測定可能である電子回折の強みを生かし、数百ナノメートルあるいはそれ以下の微結晶でも構造を決定することができます。
• 電子回折専用装置であるため、電子顕微鏡研究者との干渉もなく効率的です。高分解能透過型電子顕微鏡用のセッティングと電子回折用のセッティングの切り替えに必要なムダな時間を排除することにつながります。
• これまで単結晶Ｘ線構造解析を利用してきた研究者であれば、すぐに使い始めることができます。電子顕微鏡への習熟は不要です。

小角光散乱法(SALS)を用いて、高分子やフィルムの構造をリアルタイムに、連続的に評価できる装置です。

光源に可視光を使用している為、小角X線散乱(SAXS)や、小角中性子散乱(SANS)装置と比べ、より大きな構造(マイクロメートルオーダー)の評価が可能です。

偏光板を用いたHv散乱測定からは、光学異方性の評価や結晶構造の解析ができ、Vv散乱測定からはポリマーブレンドの評価や、配向特性の解析が行えます。