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質量分析装置 GC-MS・GC-MS/MS

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日本電子 JMS-Q1600GC UltraQuad SQ-Zeta ガスクロマトグラフ四重極質量分析計

メーカー 日本電子
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特長

「Zeta ゼータ」 第6世代のハイエンドGC-QMSついに登場
日本電子の新世代ガスクロマトグラフ四重極質量分析計 (GC-QMS) システムJMS-Q1600GC UltraQuad SQ-Zetaは、長年培ってきたQMS技術を結集させた第6世代のハイエンドGC-QMSです。
環境、水質、農薬分析といった定量分析から、材料、におい分析といった定性分析まで幅広い測定・分析ニーズに対応した究極の高性能・汎用型GC-MSです。

高い感度と圧倒的なダイナミックレンジを実現

●装置検出限界: IDL<5 fg
OFN 20 fgをSIMモードで連続8回測定し、得られた抽出イオンクロマトグラムの面積値とその再現性より装置検出下限を算出したところ、2.6 fgを達成しました。

●広いクロマトグラムダイナミックレンジ
OFN 0.005 ~ 1,000 pgを標準EIイオン源のSIMモードで測定したところ、検量線の決定係数は0.999以上を示す良好な直線性が得られました。5桁以上を有する広いダイナミックレンジは定量分析のみならず、濃度差のある混合試料の定性分析においても有効です。

自動SIM条件作成機能

●Peak Dependent SIMで簡単・高感度な定量分析
今まで煩わしかったSIMグルーピング作業を行う必要はもうありません。自動SIM条件作成機能Peak Dependent SIMは最適なSIMグルーピングを自動で設定します。誰でも簡単に最適化したSIM条件で測定を行うことができます。SIM測定における1グループあたりのチャンネル数は100、グループ数は500まで設定可能です。

ソリューションを拡げるユニークなイオン源

●高性能EIイオン源: Enhanced Performance Ion Source (EPIS) (オプション)、装置検出限界: IDL<1 fg
EPISではイオン源チャンバーを改良することで高感度化を達成しました。EPISにおける装置検出限界はIDL<1 fg (OFN 5 fg 注入、8回測定) です。業界最高レベルの感度は、

  • 微量成分分析
  • 濃縮作業の簡略化、試料導入量の低減 (汚染低減)
  • SIM定量からSCAN定量への置き換え (測定条件簡便化、ノンターゲット分析可能)

といった様々なメリットを生み出します。定量分析のみならず定性分析にも活用いただけるオプションEIイオン源です。

光イオン化法 EI/PI共用イオン源 (オプション)

光イオン化 (PI) 法は、真空紫外線 (VUV) ランプを用いたイオン化法であり、EI法 (ハードイオン化法) とPI法 (ソフトイオン化法) を組み合わせた共用イオン源として使用できます。EIフィラメントのON / OFF、PIランプのON / OFFを行うだけで、EI法とPI法の切り替えが可能です。

商品ページ

仕様

メーカー希望小売価格(税別) お問合せください

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