MACHINE機器情報
精密測定機器 蛍光X線膜厚計
蛍光X線膜厚計 FT160シリーズ FT160S/160Sh
メーカー | 日立ハイテクサイエンス |
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販売元 | 日立ハイテクサイエンス |
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特長
X線光学系にポリキャピラリを採用
約30μmφに高輝度な1次X線を照射し高精度測定を実現しました。
検出器系に高性能半導体検出器(SDD)を採用
高計数率半導体検出器(SDD)で高精度測定を実現しています。
画像処理ソフトによる自動測定アシスト機能
正確な多点自動測定による高効率化を実現しています。
シンプルなソフトデザインとヘルプ機能で簡便操作
日々のルーチン測定は、登録したアプリを用いて簡単に行うことができます。
概要
蛍光X線膜厚計 FT160シリーズ
微小・微細な電子部品などに施されたナノオーダーレベルのめっき膜厚測定に対し、ポリキャピラリ光学系と高性能半導体検出器を搭載し、高精度・高スループットを実現した蛍光X線膜厚計最新モデルです。
商品ページ
仕様
型式 | FT160S/160Sh |
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メーカー希望小売価格(税別) | お問合せください |
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