MACHINE機器情報

製品イメージ

顕微鏡・観察装置 集束イオンビーム装置

JIB-PS500i FIB-SEMシステム

メーカー 日本電子
販売元 日本電子
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特長

新しい試料作製ソリューション JIB-PS500iは、TEM試料作成をアシストする3つのソリューションを提供します。試料作製からTEM観察まで、確実かつ高スループットなワークフローで作業することができます。

概要

TEM-LINKAGE 二軸傾斜カートリッジとTEMホルダーによりTEM⇔FIBのリンクを容易にします。カートリッジは専用のTEM試料ホルダーにワンタッチで装着できます。CHCEK-AND-GO TEM試料を確実に作製するためには、作製した試料をその場でチェックできることが重要です。JIB-PS500iでは、TEM試料作製からシームレスにSTEM観察に移行できます。薄片加工⇔STEM観察の繰り返しにより、納得のいく試料作製が行えます。AUTOMATIC PREPARATION 自動TEM試料作製システムにより、TEM試料作製を自動化します。自動で資料作製を行うので、オペレータースキルによる品質のばらつきがありません。

仕様

型式 JIB-PS500i
メーカー希望小売価格(税別) お問合せください

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