MACHINE機器情報

AFMとは試料表面と探針の原子間力に働く力を検出して、微小領域をX,Y,Zのピエゾスキャナーを用いて走査し、三次元の画像を得ることができる光の解析限界を超えた高分解能顕微鏡です。測定雰囲気を選ばず、導電性、絶縁性にもよらないため試料の前処理が不要です。大気中以外にも液中、ガス中、温度や湿度の制御下での測定が可能です。また、形状情報と同じ場所の機械物性、電気物性、化学情報などの同時測定も可能な応用範囲の広い分析装置です。

最高のナノスケール解像度で信頼あるデータを提供します。サンプルのセッティングからイメージング、測定、解析に至るまですべての段階において簡単に操作することができます。