MACHINE機器情報

製品イメージ

顕微鏡・観察装置 透過電子顕微鏡

表面分析装置光分析・クロマト及び質量分析関連装置ライフサイエンス関連機器遺伝子検査・診断機器試験・計測機器電気化学分析機器表面分析装置

日本電子 JEM-ARM200F NEOARM 原子分解能分析電子顕微鏡

メーカー 日本電子
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特長

“NEOARM”は、当社独自の技術で開発された冷陰極電界放出形電子銃(Cold-FEG)と高次の収差まで補正可能な新型球面収差補正装置(ASCOR)を標準搭載し、200 kVの高加速電圧だけでなく30 kVの低加速電圧においても原子分解能での観察を実現しました。
また、当社独自の収差補正アルゴリズムを開発し高速かつ正確な収差補正を自動的に行うシステムを搭載しました。これにより、ハイスループットな原子分解能観察を提供します。
さらに、加速電圧によらず高い軽元素のコントラストが得られる新型STEM検出器を搭載しました。これにより軽元素のコントラストを向上させゆく新たなSTEMイメージング手法(e-ABF法)が可能となり軽元素を含む材料の明瞭なコントラスト観察が容易になります。
昨今、主流となっておりますリモート操作のご要求に応えるため、本体と操作卓を分離し当社の新しいコンセプトカラーであるピュアホワイトとJEOLシルバーを採用しより洗練されたフォルムデザインに仕上がりました。

概要

透過型電子顕微鏡(FE-TEM)JEM-ARM200F NEOARM

商品ページ

仕様

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