脱離エレクトロスプレーイオン化 質量分析イメージング（MSI） DESI

煩雑なサンプル前処理不要、包括的で詳細な空間情報を取得

• 分子の空間位置と分布を可視化するための大気圧下での分析法
• サンプル前処理が不要で、サンプルから直接、分子情報を取得
• H&E 染色など現在の組織病理学的ワークフローに適合
• 低分子医薬品、脂質、内因性代謝物を測定

サンプル表面から分子情報を直接取得する DESI MS イメージング

脱離エレクトロスプレーイオン化（DESI）質量分析は、幅広いサンプル表面から化学情報を直接取得できる手法です。
DESI イメージングでは、情報量の多い鮮明なイメージを通して、表面もしくはその周辺の分子の空間分布についての情報が得られます。

DESI XS は、Xevo G3 QToF、SYNAPT XS、SELECT SERIES Cyclic IMS、SELECT SERIES MRT および Xevo TQ Absolute XR で使用可能なオプションです。

推奨用途：シングルシステムソリューションを利用して、幅広い分子ターゲットを可視化、同定、測定する。