MACHINE機器情報

X線光学系にポリキャピラリを採用
約30μmφに高輝度な1次X線を照射し高精度測定を実現しました。

検出器系に高性能半導体検出器（SDD）を採用
高計数率半導体検出器（SDD）で高精度測定を実現しています。

画像処理ソフトによる自動測定アシスト機能
正確な多点自動測定による高効率化を実現しています。

シンプルなソフトデザインとヘルプ機能で簡便操作
日々のルーチン測定は、登録したアプリを用いて簡単に行うことができます。

蛍光X線膜厚計 FT160シリーズ

微小・微細な電子部品などに施されたナノオーダーレベルのめっき膜厚測定に対し、ポリキャピラリ光学系と高性能半導体検出器を搭載し、高精度・高スループットを実現した蛍光X線膜厚計最新モデルです。